本文目录一览：

• 1、论文查重包括摘要吗?
• 2、tem具有哪些分析功能
• 3、摘要能引用文献吗

论文查重包括摘要吗?

1、包括。论文的摘要是有分中英文的，但是国内的查重软件一般只会查中文的参考文献，并不会查你的英文对照摘要。况且一个论文的摘要也就小几百字，这个重复率对整篇论文的影响其实不会很大。所以主要的查重部分还是在论文的主体部分，所以在论文的主要内容上一定要避免大篇幅的抄袭和引用。

2、论文查重涵盖了摘要部分，无论摘要是中文还是英文。在中国常见的查重系统，如知网、万方、维普等，论文查重范围包括摘要、正文、结论和参考文献。参考文献需正确格式录入，通常不会被判定为重复内容。论文封面、诚信声明、页眉页脚等无需纳入查重，否则只会增加字数，对查重结果无实质影响。

3、论文在查重的时候也包括摘要，因为摘要是论文的一部分，摘要对整片论文起到开篇立意的作用，在写摘要的时候应当尽可能的用自己的方式来撰写，才能避免重复率，如果摘要中有大量引用的话，一定要正确使用引用格式，才能通过检测。

tem具有哪些分析功能

1、tem分析功能有判断已知纳米结构的生长方向、手动解析纳米晶体的晶体结构参数、自动解析未知纳米晶体的原子结构等。判断已知纳米结构的生长方向。

2、TEM能够对样品进行形貌观察与物相分析，提供高分辨率的图像，从而揭示样品的微观结构。通过直接观察晶体中原子或原子团在特定方向上的投影，TEM能够确定晶体结构，进而分析晶体中的结构缺陷，估算缺陷密度等。这种功能对于材料科学与矿物学研究尤为重要。

3、TEM不仅能够揭示样品内部的精细结构，如晶粒、相界等，还支持选区电子衍射技术，这对于研究晶体结构非常关键。此外，TEM同样具备成分分析功能，但其分析深度更深入，能够提供原子级别的成分信息。简而言之，SEM侧重于表面形貌和成分分析，而TEM则更适合观察样品内部结构，并能够进行高精度的成分分析。

4、TEM则通过透射样品中的电子来形成图像，能够表征样品的质厚衬度和内部晶格结构。由于电子在样品中传播，TEM能够提供更高的分辨率。 样品的准备要求也不同。SEM对样品的要求相对宽松，而TEM要求样品非常薄，通常需要将其减薄至100纳米以下，并制备成特定的薄片以便于观察。

5、扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）在功能上有显著差异，主要体现在对样品的观察和分析上。扫描电镜（SEM）的核心功能在于提供高分辨率的形貌图像，通过二次电子探测器（SEI）观察表面几何形态，尺寸以及元素分布。

6、在微观世界里，两种强大的工具——扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)各具特色，为我们揭示了不同层面的神秘面貌。SEM，全称扫描电子显微镜，如同显微镜下的侦探，聚焦于物体表面的微小细节。它不仅能够揭示样品的表面形貌，还具备定性和半定量的成分分析能力，帮助我们深入了解物质的表面特性。

摘要能引用文献吗

摘要可以引用参考文献。但在文章后面必须注明引用的作者、名字、刊物、时间、编号等等。摘要是一种简单的叙述，没有任何注解和评论，它是全文的一种浓缩，它需要简要地阐述研究的目的、方法和结论。以“摘录要点”的形式对其主要研究结果进行清晰、准确的报道。

摘要可以引用参考文献。但是必须在论文后标明引用参考文献作者，名称，期刊，时间，刊号等具体信息。论文摘要是对论文的内容不加注释和评论的简短陈述，是整篇论文的高度浓缩，要求扼要地说明研究工作的目的、研究方法和最终结论等。以“摘录要点”的形式清晰而明确地报道作者的主要研究成果。

不需要。摘要一般是对一篇文章或论文进行总结和概括的片段，通常不需要引用文献。因为摘要中的内容应该都可以在原始文献中找到并确认来源，所以摘要不需要另外注明出处。但如果摘要中引用了其他作者的观点、数据或论述等内容，建议还是注明出处以避免抄袭行为。